鹽霧試驗有哪些國家標準？
01 GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法--鹽霧試驗設(shè)備
02 GB/T 4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件--塵、沙、鹽霧
03 GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變 04 GB/T 12967.3-1991鋁及鋁合金陽極氧化--氧化膜的銅加速醋酸鹽霧試驗（CASS試驗）
05 GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗--鹽霧試驗
06 GB 8993.12-1988 核儀器環(huán)境試驗基本要求與方法鹽霧試驗
07 GB 6460-1986金屬覆蓋層--銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS試驗）
08 GB 6459-1986 金屬覆蓋層--乙酸鹽霧試驗（ASS試驗）
09 GB 6458-1986 金屬覆蓋層--中性鹽霧試驗（NSS試驗）
10 GB 5940-1986輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法--銅鹽加速乙酸鹽霧試驗（CASS）法
11 GB 5939-1986輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法--乙酸鹽霧試驗（ASS）法
12 GB 5938-1986輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法--中性鹽霧試驗（NSS）法
13 GB 5589.5-1985 電纜附件試驗方法--第5部分：鹽霧試驗
14 GB 5170.8-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法--鹽霧試驗設(shè)備
15 GB 4585.1-1984交流系統(tǒng)用高壓絕緣子人工污穢試驗方法鹽霧法
16 GB 2423.17-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka：鹽霧試驗方法
17 GB 1771-1979 漆膜耐鹽霧測定法
18 GB 1765-1979 測定耐濕熱、耐鹽霧、耐候性（人工加速）的漆膜制備法
19 GB 12085.4-1989 光學和光學儀器--環(huán)境試驗方法--鹽霧
20 GB 11606.13-1989 分析儀器環(huán)境試驗方法--鹽霧試驗
21 GB 10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法--鹽霧
22 GB 10587-1989 鹽霧試驗箱技術(shù)條件
23 GB 10263.7-1988 輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法--鹽霧試驗
24 GB 10125-1988 人造氣氛中的腐蝕試驗鹽霧試驗（SS試驗）
25 GB/T 18912-2002 光伏組件鹽霧腐蝕試驗
26 GB/T 12000-2003 塑料暴露于濕熱、水噴霧和鹽霧中影響的測定
27 GB/T 18310.26-2003 纖維光學互連器件和無源器件-基本試驗和測量程序第2-26部分：試驗-鹽霧
28 GB/T 18912-2002 光伏組件鹽霧腐蝕試驗
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